鏡頭分辨率測試卡TE253 9X設計用于測試鏡頭分辨率。測試卡包含徑向正弦調制的西門子星，傾斜邊緣和白色噪聲斑塊。在西門子星的中心是一個調焦標記。在測試卡的邊界處，存在16個灰色塊，用于自校準。角落顯示一個更大的黑色正方形和一個小白色正方形。西門子星形有144和72個周期。
鏡頭分辨率測試卡TE253 A 9x的最大分辨率取決于圖表的大小和中心的直徑
| 型號 | 尺寸 | 周期數 | 中心標記直徑 | 最小分辨率 | 最大分辨率 |
| TE253-L | A1066 | 72 | 12 mm | VGA | 2 MP |
| TE253-S | A1066 | 144 | 12 mm | 2 MP | 30 MP |
| TE253-H | A1066 | 144 | 5 mm | 8 MP | 180 MP |
| TE253-A460-L | A460 | 72 | 5 mm | VGA | 2 MP |
| TE253-A460-H | A460 | 144 | 5 mm | 2 MP | 35 MP |
| A1066 (反射式) | H - 144 周期和5mm標記用于8百萬到1億8千萬像素之間的攝像頭 |
| S - 144 周期和12mm標記用于2百萬到三千萬像素之間的攝像頭 | |
| L - 72周期和12mm標記 用于VGA和2百萬像素采樣率之間的攝像頭 | |
| A460 (反射式) | H - 144 周期和5mm標記用于2百萬到3千5百萬像素之間的攝像頭 |
| L - 72周期和12mm標記 用于VGA和2百萬像素采樣率之間的攝像頭 | |
| D35 (透射式) | 144周期 用于2百萬到一千萬像素之間的攝像頭 |
